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Technical articles2025
6-13普泰克-晶圓測(cè)試探針臺(tái)設(shè)備工作原理及常用類(lèi)型
工作原理溫控控制芯片通常結(jié)合溫度傳感器來(lái)工作。溫度傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)環(huán)境或設(shè)備的溫度,并將溫度信息轉(zhuǎn)換為電信號(hào)傳輸給芯片。芯片內(nèi)部的電路會(huì)對(duì)這個(gè)電信號(hào)進(jìn)行處理和分析...2025
6-13普泰克-溫控控制芯片主要應(yīng)用
主要應(yīng)用1消費(fèi)電子領(lǐng)域:在計(jì)算機(jī)與移動(dòng)設(shè)備中,如Intel的數(shù)字熱傳感器(DTS)、AMD的溫度監(jiān)控模塊(TMU),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)CPU/GPU核心溫度,聯(lián)動(dòng)主板BI...2025
6-13普泰克半導(dǎo)體溫度測(cè)試發(fā)展趨勢(shì)
六、前沿技術(shù)與發(fā)展趨勢(shì)非接觸式動(dòng)態(tài)測(cè)溫:激光誘導(dǎo)熒光(LIF)技術(shù):通過(guò)芯片表面熒光粉溫度-波長(zhǎng)特性,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)結(jié)溫(精度±1℃);紅外熱成像+AI...2025
6-13普泰克-高低溫測(cè)試探針臺(tái)典型應(yīng)用場(chǎng)景
四、典型應(yīng)用場(chǎng)景1.半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試汽車(chē)電子芯片:在-40℃~+125℃下測(cè)試MCU的時(shí)鐘穩(wěn)定性(如英飛凌AURIX系列芯片需通過(guò)AEC-Q100認(rèn)證);功...2025
5-27普泰克溫控芯片的應(yīng)用
溫控芯片(TemperatureControlChip)是實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)溫度監(jiān)測(cè)與調(diào)節(jié)的核心器件,廣泛應(yīng)用于需要穩(wěn)定溫度環(huán)境的電子設(shè)備、工業(yè)系統(tǒng)、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。以下...2025
5-27普泰克芯片溫度控制工作原理
芯片溫度控制是保障芯片穩(wěn)定運(yùn)行和使用壽命的關(guān)鍵技術(shù),其工作原理涉及熱量產(chǎn)生機(jī)制、溫度感知與反饋、散熱與制冷技術(shù)的協(xié)同作用。以下是具體解析:一、芯片熱量產(chǎn)生的根源...2025
5-22普泰克半導(dǎo)體晶圓測(cè)試工作原理
半導(dǎo)體晶圓測(cè)試半導(dǎo)體晶圓測(cè)試(WaferTesting)是半導(dǎo)體制造流程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),指在晶圓(未切割成獨(dú)立芯片的硅片)階段對(duì)其上的每個(gè)芯片(Die)進(jìn)行電氣性...2025
5-22普泰克高低溫測(cè)試機(jī)產(chǎn)品介紹
高低溫測(cè)試機(jī)高低溫測(cè)試機(jī)(又稱(chēng)高低溫試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱)是一種用于模擬和控制高低溫環(huán)境,測(cè)試材料、零部件或整機(jī)在溫度條件下性能穩(wěn)定性的設(shè)備。廣泛應(yīng)用于...